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dc.contributor.authorMesquita, Emily Gomes de-
dc.date.available2024-09-24-
dc.date.available2024-09-24T14:42:03Z-
dc.date.issued2023-09-04-
dc.identifier.urihttp://repositorioinstitucional.uea.edu.br//handle/riuea/5952-
dc.description.abstractThe work presents methodological research for the analysis of signal integrity parameters in USB 3.0 buses using Time Domain Reflectometry (TDR) technique, aiming at the feasibility of pre-compliance analysis of products in the development phase that contain this standard type of communication. Initially, there is research on the specifications of USB 3.0 and USB Type-C cable to categorize the board to be tested (which can be a host, a peripheral device, a hub, or an interconnection), resulting in the identification of compliance equipment according to the USB-IF standard. Subsequently, market research evaluates the costs of the equipment, seeking more affordable alternatives, with a special emphasis on TDR. Preliminary tests are conducted with the TDR in the laboratory, calibrating it, configuring other instruments such as the oscilloscope, and identifying the necessary accessories for the final tests. The tests are carried out following the proposed methodology, documenting each step, from the characterization of the Device under Test (DUT) to the analysis of the obtained results. The tests encompass the analysis of the chosen fixture, data collection with the DUT and an equivalent device, aiming for comparison. The main results obtained include the analysis of impedance profile and the estimation of the frequency band that defines the DUT as a non compliant USB 3.0 device, thus validating the proposed pre-compliance testing methodology. Finally, the conclusions address the collected data, the performance of the proposed methodology, and suggestions for improving result accuracy. Keywords: , ,pt_BR
dc.languageporpt_BR
dc.publisherUniversidade do Estado do Amazonaspt_BR
dc.rightsAcesso Abertopt_BR
dc.subjectBarramentos USB 3.0pt_BR
dc.subjectReflectometria no Domínio do Tempo (TDR)pt_BR
dc.subjectTestes de pré-conformidade.pt_BR
dc.subjectUSB 3.0 busespt_BR
dc.subjectTime Domain Reflectometry (TDR)pt_BR
dc.subjectPre-compliance testspt_BR
dc.titleElaboração de uma metodologia para análise de parâmetros de integridade de sinais em barramentos USB 3.0..pt_BR
dc.title.alternativeElaboration of a methodology for analysis of signal integrity parameters in USB 3.0 buses..pt_BR
dc.typeTrabalho de Conclusão de Cursopt_BR
dc.date.accessioned2024-09-24T14:42:03Z-
dc.creator.ID6613601305724525pt_BR
dc.contributor.advisor1Fernandes, Rubens de Andrade-
dc.contributor.advisor1Latteshttp://lattes.cnpq.br/2548499974014028pt_BR
dc.contributor.referee1Fernandes, Rubens de Andrade-
dc.contributor.referee1ID2548499974014028pt_BR
dc.contributor.referee1Latteshttp://lattes.cnpq.br/2548499974014028pt_BR
dc.contributor.referee2Oliveira, Jozias Parente de-
dc.contributor.referee2ID1169202481169729pt_BR
dc.contributor.referee2Latteshttp://lattes.cnpq.br/1169202481169729pt_BR
dc.contributor.referee3Cardoso, Fábio de Souza-
dc.contributor.referee3ID5612584109016079pt_BR
dc.contributor.referee3Latteshttp://lattes.cnpq.br/5612584109016079pt_BR
dc.creator.Latteshttp://lattes.cnpq.br/6613601305724525pt_BR
dc.description.resumoO trabalho apresenta uma pesquisa metodológica para a análise de parâmetros de integridade de sinais em barramentos USB 3.0 através da técnica de reflectometria no domínio do tempo (TDR), visando a viabilidade na análise de pré-conformidade de produtos em fase de desenvolvimento que contenham esse tipo padrão de comunicação. Inicialmente, há uma pesquisa das especificações do USB 3.0 e do cabo USB tipo C para categorizar a placa a ser testada (podendo ser um host, um dispositivo periférico, um hub ou uma interconexão), resultando na delimitação dos equipamentos de conformidade conforme a norma do USB-IF. Posteriormente, uma pesquisa de mercado avalia os custos dos equipamentos, buscando alternativas mais acessíveis, destacando-se o TDR. São realizados ensaios preliminares com o TDR em laboratório, calibrando-o, configurando outros instrumentos como o osciloscópio, e identificando os acessórios necessários para os testes finais. Os testes são realizados a partir da metodologia proposta, registrando cada etapa, desde a caracterização do Dispositivo sob Teste (DUT) até a análise dos resultados obtidos. Os testes abrangem as análises do fixture escolhido, coletas com DUT e dispositivo equivalente, visando comparação. Os principais resultados obtidos são a análise do perfil de impedância e estimativa da banda de frequência que definem o DUT como um dispositivo fora do padrão USB 3.0 e validam a metodologia proposta para testes de pré-conformidade. Finalmente, as conclusões abordam os dados levantados, o desempenho da metodologia proposta e sugestões para aprimorar a precisão dos resultados. Palavras-chave: ),pt_BR
dc.publisher.countryBrasilpt_BR
dc.relation.referencesBOGATIN, Eric. Signal and Power Integrity - Simplified. 3ª ed. Pretience Hall: Pearson Education, Inc, 2018. 1288 p. ELESHOP. LibreVNA 2 ports full VNA 100kHz - 6GHz. [S. l.]: Eleshop, 2023. Disponível em: <https://eleshop.eu/librevna-2-ports-full-vna-100khz-6ghz.html>. Acesso em: 07 ago. 2023. FOROUZAN, Behrouz A. Data Communications and Networking. 5ª ed. McGraw Hill, 2013. HV TECHNOLOGIES, INC. The Basics of Time Domain Reflectometry (TDR). [S. l.]: HV Technologies, Inc., 2018. Disponível em: <https://www.hvtechnologies.com/the basics-of-time-domain-reflectometry-tdr/>. Acesso em: 10 mar. 2023. HOROWITZ, P.; HILL, W. A Arte da Eletrônica: Circuitos Eletrônicos e Microeletrônica. 3. ed. Bookman, BR: Porto Alegre, 2017. 1157 p. INTEL CORPORATION. SuperSpeed USB and Beyond. Intel Technology Journal, [s.l.], v. 15, n. 2, p. 2-15, 2015. Disponível em: <https://www.intel.com/content/www/us/en/ standards/superspeed-usb-and-beyondarticle.html?wapkw=introduction%20USB>. Acesso em: 13 mar. 2023. JOHNSON, H.; GRAHAM, M. High-speed digital design: a handbook of black magic. 1. ed. Upper Saddle River, NJ: Prentice Hall, 1993. MATTHEWS, James R.; FIORE, Francis A. Transmission Lines and Communication Networks: An Introduction to Transmission Lines, High-frequency and High-speed Pulse Characteristics and Applications. Boca Raton: CRC Press, 2018. p. 184. MATHWORKS. What is MATLAB? [S. l.]: MathWorks, 2023. Disponível em: <https://www.mathworks.com/products/matlab.html>. Acesso em: 21 jun. 2023 82 MOHR. Industry’s Highest Resolution Portable Time-Domain Reflectometers. [S. l.], 2020. Disponível em: <http://www.mohr-engineering.com/tdr-cable-tester-CT100.php>. Acesso em: 10 mar. 2023. PICOTEST. J2154A PerfectPulse Diferencial TDR. [S. l.]: Picotest, 2023. Disponível em: <https://www.picotest.com/products_J2154A.html>. Acesso em: 20 jun. 2023. PICOTEST. TDR Measurement using the J2154A PerfectPulse® Differential TDR and the MSO68B Oscilloscope. [S. l.]: Picotest, 2022. Disponível em: <https://www.picotest .com/images/download/application-note-tdr-measurement-using j2154a-and-mso68b-oscope. pdf>. Acesso em: 20 jun. 2023. POZAR, David M. Microwave engineering. 4. ed. Danvers: John Wiley & Sons, Inc, 2012. 405 p. PROAKIS, John G.; SALEHI, Masoud. Digital Communication. 5. ed. New York, NY: McGraw-Hill, 2008. 1150 p. RESSO, Mike; BOGATIN, Eric. Signal Integrity Characterization Techiniques. 2. ed. Chicago, Illinois: Professional Education International, Inc., 2009. 405 p. ROHDE&SCHWARZ. Portfólio de analisadores de redes vetoriais da Rohde & Schwarz. Precisos, rápidos, versáteis. [S. l.]: Rohde&Schwarz, 2023. Disponível em: <https://www.rohde-schwarz.com/br/produtos/teste-e-medicao/analisadores-de-redes_64043. html#:~:text=O%20analisador%20de%20redes%20vetoriais,inser%C3%A7%C3%A3o%2C% 20ganho)%2C%20medi%C3%A7%C3%B5es%20de>. Acesso em: 21 jun. 2023. SASTRY, P.N.V.M.; RAO, D. N.; VATHSAL, S. e RAJAIAH, A. HDL Design Architecture for Compatible Multichannel Multi-frequency Rate SERIAL Bit Error Rate Tester (BERT) ASIC IP Core for Testing of High Speed Wireless System Products/Applications, 2015 Fifth International Conference on Communication Systems and Network Technologie, Gwalior, p. 839-843, 04-06 abr. 2015pt_BR
dc.subject.cnpqAutomação Eletrônica de Processos Elétricos e Industriais.pt_BR
dc.publisher.initialsUEApt_BR
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